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| 安检设备中使用的短余辉碘化铯(铊)晶体 | |
| 引用本文： | 董加彬,彭贺新.安检设备中使用的短余辉碘化铯(铊)晶体[J].警察技术,1998(2). |
| 作者姓名： | 董加彬 彭贺新 |
| 摘 要： | 一、序言单晶材料构成的闪烁体要求对人射辐照的吸收要大，闪烁效率要高。对于各种应用闪烁体的光输出、余辉、发射光谱、能量分辨率等性能尤为重要。其中余辉特性对于安全检查设备来说要求很高，因为安检设备中X射线探测器的主要组成部分之一是碘化铯（铊）晶体，其性能对整机技术指标有重要影响。余辉是X射线激发停止后，由于记忆效应、闪烁体按指数衰减形成的光发射，它是X射线应用中决定闪烁体可用性的基本特性之一。因此本文对影响余辉特性的因素、机理和性能提高进行了初步的探讨，以加深对余辉特性的了解。二、余辉的测试原理和测… |
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