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对后配钥匙开启弹子锁痕迹的研究
引用本文:雷中坚,俞文.对后配钥匙开启弹子锁痕迹的研究[J].河北公安警察职业学院学报,2005,5(3):27-28.
作者姓名:雷中坚  俞文
作者单位:甘肃政法学院公安分院,甘肃,兰州,730070;甘肃政法学院公安分院,甘肃,兰州,730070
摘    要:本文通过对原配钥匙与后配钥匙在弹子锁内形成痕迹的比较,分析了后配钥匙形成痕迹的原因及影响因素,为正确认识开锁痕迹作了一定的探索。

关 键 词:后配钥匙  原配钥匙  弹子锁  擦划线条
文章编号:1672-6405(2005)03-0027-02
修稿时间:2005年6月20日

Research on the Traces Left in Spring Locks by Duplicate Keys
Lei Zhongjian,Yu Wen.Research on the Traces Left in Spring Locks by Duplicate Keys[J].Journal of Hebei Vocational College of Public Security Police,2005,5(3):27-28.
Authors:Lei Zhongjian  Yu Wen
Abstract:The article analyzes the reasons and affecting elements for the traces left by duplicate keys compared with the traces left in spring locks by original keys , thus does some research in distinguishing unlocking traces.
Keywords:duplicate key  original key  spring lock  scratched line  
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