| 几类常见钥匙被增配使用后在母匙上形成痕迹的检验方法 |
| |
| 引用本文： | 白艳平,王明直,班茂森,刘晋,孙秋芬,刘伟平,胡书良,梁永利,蒋雪梅,马新和,车玉芬,侯旭,施大成.几类常见钥匙被增配使用后在母匙上形成痕迹的检验方法[J].刑事技术,2007(1):16-18. |
| |
| 作者姓名： | 白艳平 王明直 班茂森 刘晋 孙秋芬 刘伟平 胡书良 梁永利 蒋雪梅 马新和 车玉芬 侯旭 施大成 |
| |
| 作者单位： | 1. 公安部物证鉴定中心,北京,100038
2. 北京市海淀公安分局刑侦支队技术队,100086 |
| |
| 摘 要： | 目的研究几类常见钥匙增配痕迹特征分布。方法用光学显微镜观察钥匙的增配痕迹。结果几类钥匙的增配痕迹能够观察到。结论通过检验不同种类钥匙上的痕迹特征可以确定是否为增配使用痕迹。
|
| 关 键 词： | 增配痕迹 光学显微镜 钥匙 |
| 文章编号： | 1008-3650(2007)01-0016-03 |
| 修稿时间： | 2006年4月5日 |
The marks' examining methods for several kinds of common keys after being copied |
| |
| BAI Yan-ping,WANG Ming-zhi,BAN Mao-sen,et al..The marks'''' examining methods for several kinds of common keys after being copied[J].Forensic Science and Technology,2007(1):16-18. |
| |
| Authors: | BAI Yan-ping WANG Ming-zhi BAN Mao-sen |
| |
| Abstract: | Objective To analyze the copied marks on the several kinds of common keys.Method The marks on the keys are examined under the microscopy.Result The copied marks can be found.Conclusion The copied marks can be identified |
| |
| Keywords: | copied marks microscopy key |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
