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| 应用电荷耦合器检验涂抹字迹、消褪戳迹的研究 | |
| 引用本文： | 赵小林,陈薇,魏东.应用电荷耦合器检验涂抹字迹、消褪戳迹的研究[J].广东公安科技,1995(3). |
| 作者姓名： | 赵小林 陈薇 魏东 |
| 作者单位： | 广东省深圳警校(赵小林，陈薇)，广东省惠州公安局刑警支队(魏东) |
| 摘 要： | 电荷耦合器ＣＣＤ（ＣｈａｒｇｅＣｏｕｐｌｅｄＤｅｖｉｃｅ）是二十世纪七十年代在金属－氧化物－半导体（ＭＯＳ）集成电路基础上发展起来的。由于ＣＣＤ具有光电转换、信号存储、时间延迟等功能，在不同的领域里获得了广泛的应用。又由于ＣＣＤ成像面的硅材料具有较好的红外光谱响应这一独到的特点，因而在红外领域的应用也非常活跃。为此我们尝试着开展了应用ＣＣＤ检验涂抹字迹、消褪戳迹的研究，把ＣＣＤ应用于刑事物征的检验，取得了一些效果。一、基本原理被涂抹的字迹，涂抹物质、书写载体对近红外区域不同波长的光波的反射，透射… |
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