XPS检验微量物证应用初探 |
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引用本文: | 唐永,李如响,张运启.XPS检验微量物证应用初探[J].刑事技术,2008(2):55-56. |
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作者姓名: | 唐永 李如响 张运启 |
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作者单位: | 河南省驻马店市公安局刑警支队,463000 |
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摘 要: | X射线光电子能谱(X-ray Phtoelectronic Spectrum,XPS)技术是近几年发展起来的在材料物理、化学等领域有重要应用价值的测试手段,主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析,能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究,以及腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。对测试材料的检测深度为几个纳米(nm),或者说,测试样品只有几个纳米厚度即可达到测试要求,并且测试的精度非常高。
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关 键 词: | 微量物证 侦查方向 犯罪现场 |
文章编号: | 1008-3650(2007)06-0055-02 |
修稿时间: | 2007年2月12日 |
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