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集成电路知识产权保护及司法鉴定探讨
引用本文:王桂海,罗苏平. 集成电路知识产权保护及司法鉴定探讨[J]. 中国司法鉴定, 2007, 0(1): 36-39
作者姓名:王桂海  罗苏平
作者单位:华南师范大学计算机学院,广东,广州,510631
摘    要:对我国的集成电路布图设计采用专门法保护进行了讨论,并结合司法鉴定案例,对原创性和相似性比较进行分析。

关 键 词:集成电路  布图设计  知识产权  司法鉴定
文章编号:1671-2072-(2007)01-0036-04
修稿时间:2006-10-30

Protection and Forensic Evaluation of Intellectual Property of Integrated Circuits
WANG Gui-hai,LUO Su-ping. Protection and Forensic Evaluation of Intellectual Property of Integrated Circuits[J]. Chinese Journal of Forensic Sciences, 2007, 0(1): 36-39
Authors:WANG Gui-hai  LUO Su-ping
Abstract:The protection of layout designs of integrated circuits by special law in China is discussed. A case of infringement is presented to demonstrate the comparison of originality and similarity of integrated circuits.
Keywords:integrated circuit  layout-design  intellectual property  forensic evaluation
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